OmniScan X3全聚焦相控陣探傷儀，憑借優良的性能檢測速度，獲得了行業內外用戶的一致好評，稱得上便攜探傷儀界口碑俱佳的“天花板”，妥妥地無損檢測行業。其中，奧林巴斯OmniScan系探傷儀更是便攜式相控陣超聲檢測(PAUT)的模范。今天我們就以OmniScanX全聚焦相控陣探傷儀為例，為你解密超聲波相控陣探傷儀五大技術優勢.
比起入門級的探傷儀，靠著強大的檢測能力和高度的靈活性，還有在各種檢測場景挑戰中的表現，成為相控陣系列核心產品之一。它是一款功能齊備的相控陣工具箱,獨特創新的TFM全聚焦模式，在面對焊縫、管道、壓力容器、復合材料檢測等各種高難度檢測任務時，都能提供適用的功能。當然，它能成為超聲波相控陣探傷儀“天花板”的核心秘密，不止如此，還與它獨特的五大技術優勢密不可分!
技術優勢一：清晰鮮明的實時全聚焦方式包絡處理
OmniScan X3全聚焦相控陣探傷儀獨特的包絡處理功能，為缺陷生成高清全聚焦方式圖像，讓缺陷一目了然。這些圖像缺陷在背景噪聲的襯托下，也會顯得更為清晰。
技術優勢二：4種模式全聚焦方式圖像，助攻缺陷的解讀和定量
探傷儀多同時顯示4種模式的全聚焦方式圖像，讓用戶看到不同聲束模式生成的圖像，綜合在一起進行分析，從而可以確認缺陷的類型，并提高缺陷定量的性能。在同一個檢測中使用不同的全聚焦方式模式，可以讓檢測人員更有希望探測到方向異常的缺陷指示，提高檢測結果的準確性。
技術優勢三：提前確認覆蓋區域
超聲波相控陣探傷儀可過聲學影像圖工具消除了掃查計劃創建過程中的可能因素，通過屏幕上顯示某個聲波組的效果圖，看到靈敏度消失的位置，并對掃查計劃進行相應的調整，提前確認區域，幫助確認缺陷位置。
技術優勢四：相控陣技術升級，加快工作流程
OmniScan X3全聚焦相控陣探傷儀的大脈沖重復頻率是MX2探傷儀的3倍，改進的快速相控陣校對，減少了重新掃查的需要。搭配的機載雙晶線陣和雙晶矩陣探頭的支持性能，更是加速了創建設置的過程。
技術優勢五：簡化步驟，性能可靠
在保留了OmniScan系列熟為人知的界面基礎上，OmniScanX3減少了設置和分析所需的步驟，讓操作更加簡潔。無論是新老用戶，都能輕松上手，快速投入到檢測工作中。
除了這五大技術上的優勢外，奧林巴斯超聲波相控陣探傷儀OmniScanX3校準菜單可以高速跟蹤信號，檢測人員可以在幾分鐘之內簡單輕松地完成多組校準。更有高達25G的存儲空間，可以存放大量圖像而無需頻繁進行導出，新增了奧林巴斯科學云系統的無線更新功能，從而確保內部軟件的實時更新，讓使用者更加省心。
看到這里，你是不是更心動啦!不僅如此，奧林巴斯作為超聲波相控陣探傷儀OmniScanX3，更是不斷用科技賦能無損檢測，行業發展的動向，用百年實力鑄就了光學企業界的價值!
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